如何校準您的LVDTLVDT的校準對于確保它們在精度和準確度公差范圍內運行至關(guān)重要。
更新時(shí)間:2023-06-15
如何校準您的LVDT
LVDT的校準對于確保它們在精度和準確度公差范圍內運行至關(guān)重要。這就是為什么每個(gè)離開(kāi)我們工廠(chǎng)的傳感器在發(fā)貨前都經(jīng)過(guò)校準的原因。我們將詳細介紹我們使用的方法,以及我們報告中包含的信息。雖然其他方法可能略有不同,但我們發(fā)現這種方法zui準確。我們希望您能將其作為指導您自己的校準工作的有用工具。
先建立并記錄參考數據。該過(guò)程先對傳感器進(jìn)行電激勵,然后機械地將傳感器設置為零點(diǎn)位置。然后,您將記錄輸出電壓。數據應該在正點(diǎn)和負點(diǎn),以及介于兩者之間的其他位置。下一步是將收集的數據與允許的值進(jìn)行比較。請記住,值因型號而異,因此請務(wù)必隨身攜帶制造商聲明的值。以下是測試和報告所需的屬性和計算,遵循我們的標準報告格式:
zui大非線(xiàn)性度 – 這是傳感器輸出與計算線(xiàn)之間的zui大jue對差值,以滿(mǎn)量程的百分比表示。稍后,我們將在“校準數據"部分查看計算結果。
計算方法 – 將所獲取的數據與假設代表理想傳感器的計算線(xiàn)進(jìn)行比較。您可以使用以下方法:
零基數 - 平均終端 - 這是一種有點(diǎn)基本的方法,非常簡(jiǎn)單,可以手動(dòng)計算。數據在測量范圍內獲取。若要強制測量的結點(diǎn)之間的線(xiàn)通過(guò)零,則通過(guò)獲取現有結點(diǎn)的平均值來(lái)生成一條新線(xiàn)。將每個(gè)數據點(diǎn)與此線(xiàn)進(jìn)行比較,并計算非線(xiàn)性。
擬合直線(xiàn) - 與以前的方法不同,這種方法是計算密集型的,需要計算機來(lái)分析數據。從傳感器獲取的數據經(jīng)過(guò)數值分析,以產(chǎn)生一條線(xiàn),該線(xiàn)將線(xiàn)中任何給定點(diǎn)的zui差非線(xiàn)性度降至zui低。
擬合通過(guò)零的直線(xiàn) – 為了使用此方法計算理想線(xiàn),該線(xiàn)的 y 截距須為零。此線(xiàn)的斜率圍繞零點(diǎn)進(jìn)行調整,直到每個(gè)點(diǎn)產(chǎn)生的非線(xiàn)性度處于其zui低值。
如何校準您的LVDT
計算線(xiàn) - 在這里,您終于可以應用您可能在高中幾何中學(xué)到的公式:y = mX + b。在方程的實(shí)際應用中,您可以通過(guò)用位移代替 X 來(lái)計算特定位置的理論輸出。
工作范圍 – 這表示傳感器校準的總范圍。對于某些設備,制造商將提供線(xiàn)性范圍和zui大可用范圍。在大多數情況下,校準應線(xiàn)性范圍內執行。
靈敏度 – 這表示測量的位置與電壓輸出之間的關(guān)系,以伏特輸出/單位位移/伏特輸入為單位表示。它由計算線(xiàn)的斜率(m)除以電壓輸入來(lái)計算。
測試位置 – 用于確定傳感器的靈敏度。它表示收集校準數據的電壓。對于直流傳感器,電壓和zui小負載阻抗是相關(guān)的。對于交流傳感器,RMS電壓和頻率是相關(guān)的。
校準數據 – 在這里,您顯示的是校準期間獲取的數據,重點(diǎn)介紹用于計算zui大非線(xiàn)性度的數字,正如我們在本文前面討論的那樣。關(guān)鍵數據點(diǎn)包括:
位置 – 獲取數據的機械位置
數據 – 每個(gè)位置的實(shí)際輸出電壓
零調整數據 - 對于直流傳感器,零位移處的電壓并不總是0.0000 VDC,導致殘余電壓,稱(chēng)為零偏移,需要補償。零點(diǎn)調整數據是每個(gè)位置的輸出電壓減去殘余零點(diǎn)電壓。
重要的是要注意,由于交流LVDT的正交電壓,它們的校準方式須略有不同。AC LVDT的數據不是將設備設置為在0.0000 V零點(diǎn)工作,而是在zui低RMS輸出點(diǎn)周?chē)鷮ΨQ(chēng)獲取。殘余正交電壓是異相分量,通過(guò)解調將其移除。
誤差 % F.S.
要在每個(gè)點(diǎn)建立非線(xiàn)性,先要從每個(gè)點(diǎn)的計算值中減去零調整后的輸出。然后將差值除以計算器線(xiàn)路的滿(mǎn)量程電壓擺幅。將此數字乘以 100 得到百分比。找到的zui大jue對值表示單位的zui大非線(xiàn)性度。
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